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-针对透明/半透明晶圆宏观缺陷检测；-20+衬底/外延缺陷专项检测包；-配置多视角多道光检测方案；-可根据缺陷类型进行扩展；
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1147 | 浙江 |
-多尺寸高精度缺陷检测：支持6"/8"晶圆（含碳化硅/Si/LT等材质），厚度覆盖150μm~1000μm；-高吞吐设计：8英寸晶圆@2x镜达54WPH，6英寸@2x镜达100WP
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906 | 浙江 |
有图形晶圆衬底/外延无损检测设备Alpha9770：适用于4、6、8英寸Si、SiC及LTWafer等多种材料；可针对半导体工艺制程中的COW及COT进行高效率、高精确度的缺陷检测；采用先进的成像方式
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940 | 浙江 |
·无图形晶圆衬底/外延无损检测设备：·自研高解析度成像系统，集成明场（含DIC）/暗场/PL等通道，对衬底、外延缺陷均可清晰成像；·PL光路高效率激发、多通道采集、高精度成像，晶格缺陷成像更清晰、细节
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1054 | 浙江 |
OpenLight是面向高校和科研院所，应用于裸片、晶圆、芯片、器件等半导体各制程段产品的显微观测，是AOI算法、工艺验证、光学实验等应用的研发利器OpenLight采用自主设计的超高速、大视野、高解
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973 | 浙江 |
啊？丹麦OxyGuard便携式手持水体溶氧仪型号：Polaris设备介绍：丹麦OxyGuard的便携式手持溶氧仪可方便得测量养殖水体或其他水体中的溶解氧含量及温度，设备操作简便，仅需按下测量按钮即可立
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820 | 丹麦 |
丹麦OxyGuard便携式手持盐度计设备介绍：用于测量盐度的手持式测量仪，HandySalinity是一种专门为水产养殖而设计的手持式仪器。工厂校准和自动温度补偿使其非常容易使用。显示器直接显示盐度，
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715 | 丹麦 |
VisiSensTD氧气、pH值和二氧化碳成像-代谢活动非破坏性绘图VisiSensTD能够同时2D测量光学O2、pH和CO2传感器箔。用于一种或多种分析物的平面传感器被放置在样品区域上或不同的空腔中
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591 | 德国 |
4通道微型PH计pH-4micro是一款精密4通道微型光纤pH计。这款pH计用于读取基于140μm光纤、多达4个pH值微型传感器的读数。这一软件操作简易，需要连接计算机进行使用。内含软件可实现简单单点
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633 | 德国 |
日本TSUTSUI筒井理化学粉末松装密度测定器TPM-3A日本TSUTSUI筒井理化学粉末松装密度测定器TPM-3A
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1206 | 日本 |
SongMeterSM4鸟类、动物鸣声自动记录仪一简介SongMeterSM4全天候动物鸣声记录仪是一种专门用来釆集野外某地动物声音的仪器。将它放在野外,通过录下野外某地的各种动物(例如鸟类,蛙类及大
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648 | 欧洲 |
StarFish990F拖曳式侧扫系统 超高清高分辨率StarFish侧扫声纳用于目标检测。StarFish990F是基于流行且经过验证的450F设计，水平波束宽度为0.3°。StarFish990
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688 | 欧洲 |
TeledyneBenthos水声通信机TeledyneBenthosATM-900系列声通讯机在旧版系列基础上实现了重大改进。ATM-900系列提供丰富的适用于特殊应用的扩展选项，支持除水下通信以外
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668 | 美国 |
产品型号晶圆铜雾离子检测设备-HD应用场景QCLab检测缺陷判断晶圆COP缺陷，辅助晶棒品质分析检测精度±1mm产能COP分布快速分析成像产品特点COP分布快速分析成像晶圆直径Ф6″、Ф8″、Ф12″
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1232 | 浙江 |
产品型号晶圆表面及边缘检测设备-SEDI应用场景清洗、成型、抛光检测缺陷Particle、划伤、崩边、裂纹、Cloud、Pit、边缘缺陷Particle：0.2μm；边缘1.25μm；Scratch：
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1619 | 浙江 |
产品型号晶圆边缘检测设备-EDI应用场景成型、抛光检测缺陷崩边、裂纹、划伤等边缘缺陷检测精度边缘：1.25μm产能85WPH@300mm产品特点缺陷分布、不良分类、ADC晶圆直径Ф6″、Ф8″、Ф12
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1277 | 浙江 |
应用场景NAND/NORFlashTestSpeed同测数高达1152个DUTSImageCaptureSpeed每个DUT分配独立的5个pins,2DRpins+1I/Opin+1HVpin+1Po
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1126 | 浙江 |
产品型号晶圆隐裂外观检测设备-ADS应用场景成型、抛光检测缺陷隐裂、崩边、划伤、线痕、化学脏污检测精度隐裂：30μm、正反面：20um；产能185WPH@300mm产品特点隐裂检、高产能、低过检、AD
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1282 | 浙江 |
TeledyneBenthos声学释放器R系列释放器采用全新的电子体系架构，新的电子体系架构提供了新的功能：电源电压和余下的电量百分比显示，释放器倾角显示。通过释放器明确的状态显示，用户可以获得释放器
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776 | 美国 |
1.非易失存储器晶圆级BIST测试平台。2.通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）。3.搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间。4.成
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1270 | 浙江 |
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