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剪切电子散斑干涉是通过错位（剪切）光学元件，将物体表面的不同区域成像在同一像面上产生干涉的一种干涉测量技术。通过比较变形前后的干涉图案，可以方便地获得代表物体表面离面位移沿剪切方向斜率变化的干涉条纹。
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1044 | 江苏 |
日本suketomo高耐磨性氧化铝陶瓷球L92日本suketomo高耐磨性氧化铝陶瓷球L92
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1182 | 日本 |
一维离面位移相移激光电子散斑干涉仪是一种利用激光干涉原理来测量物体表面位移或变形的技术。将激光束经过分束器分成参考光束和测量光束，测量光束照射到被测物体的表面，反射后与参考光束在干涉仪中重合，形成干涉
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1020 | 江苏 |
双光束相移电子散斑干涉仪，是将两束激光对称照射到漫反射物体的同一表面，表面散射光之间产生互相干涉，通过比较变形前后的干涉图案，可以获得代表物体表面面内位移变化的干涉条纹。结合相移技术，可以使双光束相移
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1023 | 江苏 |
数字云纹测量仪基于相移结构光算法，实现高精度、无接触式三维形貌重建及离面变形测量。设备凭借亚毫米级重建精度与一体化硬件设计，适用于三维扫描原理教学、工业检测仿真实训、柔性体变形分析、文物扫描等场景，显
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915 | 江苏 |
日本日陶nikkato原料研磨用氮化硅球SUN-11SUN-15日本日陶nikkato原料研磨用氮化硅球SUN-11SUN-15
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1326 | 日本 |
光弹性法是一种光学应力测量方法。光弹性法可以测量几何形状与载荷条件较为复杂的构件应力，特别是可测量其它方法难以解决的应力集中及内部应力问题。因而，受到学术和工程领域的青睐。光弹性更是高等学校力学实验教
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1105 | 江苏 |
日本大明化学taimei电子光学材料研磨用高纯度氧化铝球TB日本大明化学taimei电子光学材料研磨用高纯度氧化铝球TB
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1269 | 日本 |
小型光学平台加载架采用手动加载方式，具有体型小巧，操作简单，方便携带，参数数显的特点。技术参数型号BW-LR-60加载模式手动加载类型三点弯/四点弯/圆盘对径加载允许样品最大尺寸200mm（宽）×60
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874 | 江苏 |
日本佐藤satotekkou耐磨耗性混合粉碎用尼龙球铁芯日本佐藤satotekkou耐磨耗性混合粉碎用尼龙球铁芯
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1268 | 日本 |
静力加载架采用手动加载方式，具有体型小巧，力度可控，操作简单，加载高度可调，参数数显的特点。适合实验教学与科研实验中小型试件的加载工作。技术参数型号BW-LR-200允许试件最大宽度250mm允许试件
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937 | 江苏 |
LED单色光源型号BW-BLS-150功率150W（常开模式）/300W（触发模式）波长450-455nm发散角60°偏振镜无散热主动（风冷）电压48V安装孔1/4"×2，3/8"
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879 | 江苏 |
日本佐藤satotekkou粉碎用尼龙被覆铁球日本佐藤satotekkou粉碎用尼龙被覆铁球
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1282 | 日本 |
LED单色光源型号BW-BLS-20功率20W波长450-455nm发散角60°偏振镜PL散热被动电压32V安装孔1/4"×2，3/8"尺寸76x76x130(mm)100%光照度
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805 | 江苏 |
日本日陶nikkato颜料粉末粉碎研磨用氧化铝球陶瓷珠日本日陶nikkato颜料粉末粉碎研磨用氧化铝球陶瓷珠
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1078 | 日本 |
日本日陶nikkato高纯材料粉碎研磨氧化铝球SSA-999W日本日陶nikkato高纯材料粉碎研磨氧化铝球SSA-999W
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1160 | 日本 |
日本inaba-rubber耐臭氧型精密研磨橡胶球抛光伊娜球日本inaba-rubber耐臭氧型精密研磨橡胶球抛光伊娜球
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2236 | 日本 |
悬臂梁加载试件是在材料力学中为了便于计算分析而得到的一个简化模型，悬臂梁的一端固定支座，另一端为自由端。在荷载作用下，可根据力的平衡条件求得悬臂梁的固定端的支座反力，包括水平力、竖向力以及弯矩，并可据
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880 | 江苏 |
圆盘加载试件是由硬铝材料经过机械加工而成，配以旋转俯仰台可进行面内旋转加载及离面方向加载，也可用于电子散斑测量实验和数字相关测量实验的模拟试件，试件被测区域可根据实验情况做喷漆处理。
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817 | 江苏 |
日本爱工舍aicohsha混合机材料研究ACM-0.40.8LVT日本爱工舍aicohsha混合机材料研究ACM-0.40.8LVT
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1028 | 日本 |
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