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PE系列颚式破碎机适用于冶金、矿山、建筑及铁路部门，作为初碎、中碎抗压强度在250MPa以下的各种矿石或岩石之用，具有破碎比大，成品粒度均匀，动力消耗低，便于维修保养等特点。
技术参数：
项目单位
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22796 | 本厂 |
HC1700型摆式磨粉机的设计,是我公司多位高级工程师紧跟国内外磨粉行业的发展趋势，研发的一款革命性、创新型磨粉设备。这款磨粉设备的出现，打破了以往国内磨粉机器不能超大规模生产的限制，有利的提高了单台
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20767 | 本厂 |
静态容量法孔隙率测量仪JW-BK技术参数如下：主要功能：孔隙率测量仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积
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20201 | 北京 |
静态容量法孔隙率检测仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔隙率检测仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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4656 | 北京 |
静态容量法孔隙率测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔隙率测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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4642 | 北京 |
静态容量法孔径分布测量仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布测量仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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4244 | 北京 |
静态容量法孔径分布检测仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布检测仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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4158 | 北京 |
静态容量法孔容积分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔容积分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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6513 | 北京 |
静态容量法孔隙度分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔隙度分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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4611 | 北京 |
分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面
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5289 | 北京 |
静态容量法孔径分布测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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5881 | 北京 |
静态容量法孔径检测仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径检测仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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4684 | 北京 |
静态容量法孔径分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔
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10312 | 北京 |
一、孔容积测定仪技术参数如下：
主机功能孔容积测定仪：
（1）单点及多点孔容积测定仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法孔容积测定仪快速测定
（3）Langmuir孔容积测定仪
测定范围
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5003 | 北京 |
一、比表面分析仪技术参数如下：
主机功能比表面分析仪：
（1）单点及多点比表面分析仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面分析仪快速测定
（3）Langmuir比表面分析仪
测定范围
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5024 | 北京 |
一、比表面测试仪技术参数如下：
主机功能比表面测试仪：
（1）单点及多点比表面测试仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面测试仪快速测定
（3）Langmuir比表面测试仪
测定范围
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7376 | 北京 |
分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面
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6495 | 北京 |
一、比表面积分析仪技术参数如下：
主机功能比表面积分析仪：
（1）单点及多点比表面积分析仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面积分析仪快速测定
（3）Langmuir比表面积分析仪
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8601 | 北京 |
一、比表面积检测仪技术参数如下：
主机功能比表面积检测仪：
（1）单点及多点比表面积检测仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面积检测仪快速测定
（3）Langmuir比表面积检测仪
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6539 | 北京 |
产品特点发明专利发明专利DX型仪器，不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算，完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定；（专利号2
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7978 | 北京 |
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